반응형 분석법4 FIB 분석 및 원리 (Focused Ion Beam) 가공과 분석이 모두 가능한 고오급 장비 안녕하세요 오늘은 FIB (Focused Ion Beam)를 알아보도록 하겠습니다. FIB는 FBI처럼(...죄송합니다) 범죄에 집중하듯 집중된 이온 빔을 사용하여 물질의 표면을 가공하거나 분석하는 고오급 나노기술 도구입니다(고오급 이라 표현한 이유는 비싸기 때문) FIB는 주로 반도체 산업 및 나노기술 연구에서 사용되며 다양한 응용 분야에서 유용하게 활용됩니다. FIB의 작동 원리는 다음과 같습니다: 1.이온 발생: FIB 시스템에서는 일반적으로 갤리움(Ga) 또는 자체 톰슨(T) 이온을 사용합니다. 갤리움 이온은 일반적으로 이용되며, 갤리움을 고온에서 가열하여 생성된 이온을 이용합니다. 2.이온 표시 및 집중: 생성된 이온은 전자 렌즈 시스템을 통과하여 집중되고, 컴퓨터 제어 시스템을 사용하여 이온 .. 2023. 11. 15. ICP MASS 분석 및 원리 (FEAT. ICP-OES) 안녕하세요 오늘은 ICP-MS로 불리는 분석에 관해 알아보겠습니다. ICP-MS는 (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)의 약자로 주로 정성분석에 관한 분석을 진행할때 많이 쓰입니다. 즉 원하는 시료에 어떤 물질이 있는가를 보기위한 분석입니다. 분석 원리에 대해 먼저 설명하자면 ICP PLASMA (원형으로 돌아가는 전자기장에서 충돌로 인해 발생한 플라즈마)중에서도 아르곤(Ar)플라즈마를 형선한다. 이때 시료를 넣게되고 고온의 플라즈마 상태에서 시료또한 이온화 됩니다. 이때 고체의 물질은 산으로 분해하여 그 분해한 액체를 분석하게 됩니다. 일반적으로 ICP-MS는 그 이름처럼 MASS 즉 질량을 비교하게 됩니다. 즉 이미 많은 아르곤 플라즈마에서 아르곤의 질량.. 2023. 11. 10. XPS분석 원리/방법/분석가능data XPS(X-ray Phothelectron Spectroscopy) 표면 분석 장비 원리: X-ray를 Sample에 조사하여 표면(약 10nm)으로부터 방출되는 광전자의 운동에너지를 수집하여 분석하는 원리 그렇다면 XPS는 XRD와 무엇이 다른가 Source power의 차이 XPS 2021. 5. 11. XRD의 원리와 분석방법 XRD원리-브래그법칙 X-ray의 각도에 따라 각 원자에서 반사된 X선의 위상차가 다르게 나타납니다. 진행상 경로차는 2d sinθ로, 세타값에 따라 변합니다. 이때 X선의 위상차이를 만드는 경로차가, 표면에 조사해준 X선의 파장과 어떤 관계를 가지냐에 따라 중첩된 반사광(=원자를 맞고 반사된 X선)은 보강간섭을 하기도 하고 안하기도 합니다. 발생된 X선의 경로차는 특정θ값에서 보강간섭을 일으킵니다. 이 경우에 X-ray의 Intesity가 높게나오는데 이를 Peak로 삼아 해당 물질을 확인하는게 XRD의 원리입니다. 일반적인 경우 x축을 2θ, y축을 intensity로 놓고 그래프를 그립니다.(물론 손이아니라 기계가^^) 위와같은 그래프는 결정질 구조에서 나타나는데 규칙적인 배열을 이룰때 반사되는.. 2021. 5. 7. 이전 1 다음 반응형
